研磨和拋光配件

可以找到使用雙重夾持原理設(shè)計(jì)的輕型鋁制試樣夾。一個(gè)螺絲固定兩個(gè)樣品。該功能能夠?qū)崿F(xiàn)更快的夾持速度，在大多數(shù)情況下還能提高試樣夾的性能。　　 

調(diào)平設(shè)備可以調(diào)平直徑為 140、160 和 200 毫米的試樣夾中的試樣，還有各種類(lèi)型的儲(chǔ)物柜，以便簡(jiǎn)單安全地存放研磨盤(pán)和拋光布。

試樣夾

試樣夾使用各種形狀和尺寸的未鑲樣或鑲樣試樣。

試樣夾的直徑為 140、160 和 200 毫米。

不銹鋼或輕質(zhì)鋁制試樣夾。

雙重夾持以提高性能。

同時(shí)可以?shī)A持最多 12 個(gè)試樣。

可以調(diào)整孔直徑，靈活性更強(qiáng)。

通過(guò)簡(jiǎn)單、快速夾持節(jié)約寶貴的時(shí)間。

試樣移動(dòng)盤(pán)

如果要制備單個(gè)試樣，則有各種試樣移動(dòng)盤(pán)可用。

由不銹鋼制成

適用于 3-6 個(gè)樣品

適用于無(wú)孔 Accustop

帶有內(nèi)圈的 MD-Disc

帶有內(nèi)圈的磁性制備盤(pán)。

直徑有 200、250、300 毫米。

通過(guò)內(nèi)圈可以輕松更換 MD-Disc

AccuStop

用于在 SiC 研磨紙上手動(dòng)研磨單個(gè)金相試樣的試樣夾。

AccuStop 有兩種尺寸：AccuStop 40 可以處理 40 毫米直徑的試樣，而 AccuStop 30 可以處理 30 毫米直徑的試樣。

在標(biāo)準(zhǔn)情況下，AccuStop 可用于這兩種圓柱形樣品，可通過(guò) Flangeform 將法蘭安裝在試樣橡膠環(huán)來(lái)實(shí)現(xiàn)快速固定。

AccuStop-T

AccuStop-T 是專(zhuān)為微電子行業(yè)的靶制備設(shè)計(jì)。

AccuStop-T 獨(dú)有的傾斜功能可以同時(shí)到達(dá)試樣靶平面中的多個(gè)點(diǎn)，例如多行錫球和 PCB 通孔。

AccuStop-T 試樣夾可以在任何方向?qū)悠穬A斜 +/- 2 度。

AccuMeter

AccuMeter 測(cè)量站是專(zhuān)為與 AccuStop-T 配合使用而設(shè)計(jì)的。

可以輕松測(cè)量?jī)A斜角度，同時(shí)配有測(cè)量范圍為 0-25 毫米，步長(zhǎng)為 10 微米的千分尺。

與 AccuStop 30 配合使用時(shí)極為有效。

TargetSystem - 鑲件

與 ?40 毫米鑲樣杯配合使用的鑲件，50 件

最大試樣尺寸 35 x 20 毫米。

TargetSystem - 平行試樣夾

用于平行拋光的適配器（可重復(fù)使用）。

最大試樣尺寸 23 x 23 毫米。

TargetSystem - 樣品座

適用于橫截面的適配器（一次性）。

最大試樣尺寸 27 x 20.5 毫米。50 件。

TargetSystem - Target Grip

TargetGrip 是可傾斜樣品夾。其可容納直徑長(zhǎng)達(dá) 40 毫米的安裝樣品。

用于大型樣品的適配器，橫截面和平行拋光以及 40 毫米到 25 毫米是適配器，可作為 SEM 底座。